2-D nanotabaka bazlı MFI ince filmlerinin hazırlanması

Simple item page
dc.contributor.authorTopuz, Berna
dc.contributor.departmentMühendislik Fakültesitr_TR
dc.date.accessioned2020-01-28T13:15:51Z
dc.date.available2020-01-28T13:15:51Z
dc.date.issued2018
dc.description.abstract2D gözenekli malzemeler (zeolit ya da MOF) son yıllarda ince membran üretimi için oldukça dikkat çekmektedir. Bu çalışma 3 nm kalınlığında ve ortalama 400 nm uzunluğunda esnek yapıya sahip MFI nanotabakalarının gözenekli destekler üzerinde kolay ve yönelimli olarak 50 nm kalınlığında sürekli olarak paketlenebildiğini göstermiştir. Bu proje kapsamında gözenekli destekler üzerinde hazırlanması hedeflenen çok ince (<50 nm) az hatalı/hatasız MFI film üretimi için, uygun katmanlı MFI sentez koşulları araştırılmıştır. Katmanlı yapıda sentezlenecek MFI nanotabakalarının boy-kalınlık oranının arttırılması hedeflenmiştir. MFI nanotabakaları C22 alkil polimer zincirine sahip organik şablon molekülü kullanılarak sentezlenmiştir. Organik şablon molekülünün yapısında bulunan amin grupları geleneksel MFI kristal yapısının oluşumuna neden olan Tetrapropil amonyum görevinde MFI kristalinin yanal düzlemde kristalizasyonuna (kristalografik ac-düzlemi) neden olurken uzun polimer zincirleri kristalin dik düzlemde (kristallografik-b yönü) büyümesine engel olmaktadır. Bu nedenle, MFI nanotabakalarının tek aşamalı hidrotermal yöntemle üretimi kullanılan organik şablon molekülüne bağlı olmakla birlikte sentez kompozisyonu ve sentez koşulları (sentez sıcaklığı/süresi, durgun ya da dönerek) nanotabakaların boyutu ve kristallik oranını etkilemektedir. Çalışma kapsamında 1 mikron üzerinde uzunluğa sahip nanotabaka üretimi için, uygun şablon molekülü hazırlanması ve kristalizasyon koşulları araştırılmıştır. Hazırlanan katmanlı MFI katmanlarına ayrılarak uygun çözücü içerisinde dağıtılacak ve gözenekli alümina destekler üzerine vakum filtrasyonu ile kaplanmıştır. Katmanlı MFI, XRD ve SEM ile karakterize edilmiş, nanotabakaların karakterizasyonunda TEM kullanılmıştır. Ayrıca kaplama sonrasında destek üzerinde kaplama kalınlığı FIB-SEM ile belirlenmiştir.tr_TR
dc.identifier.endpage28tr_TR
dc.identifier.startpage01tr_TR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12575/69337
dc.language.isotrtr_TR
dc.publisherAnkara Üniversitesi : Bilimsel Araştırma Projeleritr_TR
dc.relation.bap17H0443002
dc.relation.publicationcategoryRaportr_TR
dc.rightsCC0 1.0 Universal*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/publicdomain/zero/1.0/*
dc.subject2-Dtr_TR
dc.subjectNanotabakatr_TR
dc.subjectMFItr_TR
dc.title2-D nanotabaka bazlı MFI ince filmlerinin hazırlanmasıtr_TR
dc.title.alternativePreparation of 2-D nanosheet based MFI thin filmstr_TR
dc.typeOther / Diğertr_TR

Files

Original bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
17H0443002-Sonuç Raporu.pdf
Size:
3.11 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Download
License bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
1.62 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description:
Download

Collections

RAPORLAR